第60回全日本包装技術研究大会において当社子会社である神栄テクノロジー株式会社 システム事業推進部 川口和晃 部長が優秀発表賞を受賞しました。
優秀発表賞を受賞した発表題目は「1試料による包装貨物落下試験機を用いた簡易衝撃強さ試験」であり、適正包装設計を行うために必要な製品衝撃強さ試験の簡易法を提案しました。現行の衝撃強さ試験は、JIS規格によると高額な専用衝撃試験機を使用する必要があり、かつ試験手順も煩雑であることから、試験自体がなかなか普及していないといった課題がありました。そこで、本発表では、だれでも簡単に衝撃強さ試験が実施できるよう包装貨物落下試験機を用いた簡便な試験方法を提案しました。今後は、本提案法の周知活動を通じて、各社の適正包装設計の実現に向けた取り組みを進めていきます。
また、川口部長は過去にも同大会で受賞（48回、50回、54回、55回）、日本包装学会における論文賞(第17回年次大会、第25回年次大会）および奨励賞（第21回年次大会）といった賞も複数受賞しております。
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| 本発表で用いた包装貨物落下試験機 DTSシリーズ |
